SGS测量技术中的计数率损失校正方法试验研究  

作　　者：郜强[1] 卢文广[1] 邵婕文[1] 何丽霞[1] 隋洪志[1] 甘霖[1] 

机构地区：[1]中国原子能科学研究院核保障技术重点实验室

出　　处：《电气时代》2016年第6期93-96,共4页Electric Age

摘　　要：在HPGeγ谱仪测量中,当谱仪系统通过的总计数率较高时,会出现计数率损失现象。在定量测量分析中需要对损失的计数率进行校正。通过试验,对参考峰法与谱仪内置活时间计数法的校正效果进行了比较分析。结果表明：在试验涉及的死时间范围中,参考峰校正方法存在不足,而活时间计数法得到的计数率结果能够满足定量测量的需要。根据这个结果,卸除了研制中的分段式γ扫描测量装置上的参考源,降低了装置成本,提高了装置的安全性能,简化了测量分析流程。试验表明，简化后装置的测量分析结果满足设计指标的要求。

关 键 词：方法试验 测量技术 校正效果 计数率 损失 HPGEΓ谱仪 SGS 测量装置 

分 类 号：TL817.2[核科学技术—核技术及应用]