NI举办第十三届＂PXI技术和应用论坛＂,引领PXI发展新潮流  

出　　处：《测控技术》2016年第7期157-157,共1页Measurement & Control Technology

摘　　要：美国国家仪器公司（简称NI）近日在上海举办了第十三届＂PXI技术和应用论坛＂（PXI TAC,PXI Technology＆Application Cooference）。本次PXI TAC的主题为＂更智能的系统-更智能的系统测试＂,吸引了600余名行业领军人物、技术专家和相关机构代表,共同分享最新、最全、最前沿的测试领域技术干货，共同探讨PXI技术的发展趋势和应用案例。

关 键 词：PXI技术 应用 论坛 美国国家仪器公司 NI 潮流 技术专家 发展趋势 

分 类 号：TP336[自动化与计算机技术—计算机系统结构]