基于信息流的关键软件缺陷定位技术  

The Critical Defect Localization Technique Based on Information Flow in Software

作　　者：周东红[1] 石柱[1] 王瑞[1] 李沫[1] 

机构地区：[1]中国航天系统科学与工程研究院,北京100048

出　　处：《载人航天》2016年第5期635-640,共6页Manned Spaceflight

摘　　要：针对软件因涉及多程序要素间相互作用而来的复杂缺陷,研究了基于信息流的关键软件缺陷定位技术,对现有的信息流进行了扩展,并对经典方法的可疑度度量公式进行了改进,而且将其融入了相关算法;并进行了与语句覆盖、分支覆盖和定义使用对覆盖等缺陷定位技术的对比试验,结果表明:此方法比基于语句覆盖、分支覆盖和定义使用对覆盖的方法更可靠、更精确,能高效率地定位软件中的缺陷。b

关 键 词：软件测试 复杂缺陷 信息流覆盖 语句覆盖 分支覆盖 定义使用对覆盖 

分 类 号：TP311[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]