CMOL电路容错单元映射  

Defect-tolerant cell mapping for CMOL circuits

作　　者：苏蒙蒙[1] 夏银水[1] 储著飞[1] 陈定亨 王伦耀[1] 

机构地区：[1]宁波大学信息科学与工程学院,浙江宁波315211

出　　处：《中国科技论文》2016年第14期1576-1581,共6页China Sciencepaper

基　　金：高等学校博士学科点专项科研基金资助项目(20113305110001)

摘　　要：结合电路的拓扑排序优化映射初始解,利用进化算法进行单元映射,提出了基于蛇形编码的容错映射方法,实现了存在缺陷情况下的容错映射.与已有的方法相比,提出的算法具有求解电路规模大、速度快的优点。A serpentine coding based defect-tolerant cell mapping is proposed for defect-tolerant cell mapping under the circumstance of defect existence. The methods are integrated： the optimized initial mapping solution based on the topological sorting of circuits and the evolution algorithm based cell mapping. Compared with the published methods, the proposed algorithm can solve large circuits with short CPU time.

关 键 词：不规则纳米阵列 容错 单元映射 初始解 

分 类 号：TN40[电子电信—微电子学与固体电子学]