500kV HGIS红外成像检漏及解体分析  

作　　者：张小平[1] 薄鲁海[1] 罗利云[1] 王鹏[2] 吴冬文[1] 

机构地区：[1]国网江西省电力公司检修分公司,南昌330029 [2]国网江西省电力科学研究院,南昌330029

出　　处：《电工技术》2016年第10期53-54,共2页Electric Engineering

摘　　要：通过对SF6组合电器进行红外检漏工作,可及时发现设备在设计、制造和安装等过程产生的砂眼渗漏现象,从而有效避免电网故障发生。针对某500kV变电站HGIS盆式绝缘子浇筑口SF6气体渗漏情况,介绍HGIS设备和红外检漏的基本情况、HGIS设备渗漏点现场处理方案,通过解体分析盆式绝缘子密封圈失效原因,为带电检测技术在SF6气体设备运维中的实际应用提供参考。

关 键 词：HGIS 带电检测 红外检漏 解体分析 

分 类 号：TH744[机械工程—光学工程]