用电子引伸计对光栅测微传感器进行期间核查的探索  

Electronic Expensometer Exploration During the Verification of Grating sensor

作　　者：房永强 杨军红 郑晓斐 张浩 

机构地区：[1]西部金属材料股份有限公司,陕西西安710201

出　　处：《计量与测试技术》2016年第10期55-57,共3页Metrology & Measurement Technique

摘　　要：文章探讨了使用电子引伸计标定器对光栅测微传感器进行期间核查,期间核查结果与计量部门校准结果基本一致。此方法操作简单,可靠性高,为实验室核查提供了一种便捷可靠的期间核查方法。

关 键 词：光栅测微传感器 电子引伸计标定器 期间核查 

分 类 号：TH741.1[机械工程—光学工程]