检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]深圳市一博科技有限公司
出 处:《安全与电磁兼容》2016年第5期62-64,70,共4页Safety & EMC
摘 要:某DDR3辐射超标,通过串联电阻、ODT技术等方式改善信号反射从而抑制其EMI。最终的仿真结果表明,在DDR3系统中,串联电阻减小了7%的远场能量,25%的近场能量;ODT技术减小了5%的远场能量,40%的近场能量。The suppression methods for radiated emssion of DDR3 were introduced through using series resistance and ODT technology to reduce the signal reflection. The simulation results showed that the far-field energy could reduce 7% and 5%, and the near-field energy could reduce 25% and 40% by using series resistance and ODT technology correspondingly.
关 键 词:印制电路板 电磁干扰 DDR3 芯片内端接 串联电阻
分 类 号:TN40[电子电信—微电子学与固体电子学]
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