一种简易的智能数字芯片检测装置  

作　　者：秦玉伟[1] 

机构地区：[1]渭南师范学院物理与电气工程学院/陕西省X射线检测与应用研究开发中心

出　　处：《计量技术》2016年第11期14-17,共4页Measurement Technique

基　　金：陕西省教育厅科研计划项目（15JK1252,15JK1380）;渭南师范学院科研计划项目（15ZRRC08）

摘　　要：针对实验教学过程中数字芯片型号识别和内部故障等问题，设计了一种基于MSP430系列单片机的低功耗智能数字芯片检测装置。利用布尔函数关系式建立了故障集，并对测试芯片生成测试向量，通过单片机编写待测芯片逻辑功能的测试程序，用单片机I／O对待测芯片的逻辑功能进行检测，并将检测结果与存储的芯片逻辑功能进行对比，判断待测芯片是否存在故障。实验结果表明，该装置能够实现对双列直插式数字芯片的快速检测，并显示数字芯片型号或故障，具有体积小、检测速度快，使用方便等优点。

关 键 词：数字芯片 单片机 检测 逻辑功能 

分 类 号：TN492[电子电信—微电子学与固体电子学]