2016中国国际无损检测与分析测试仪器展览会  

出　　处：《仪表技术》2016年第11期11-11,共1页Instrumentation Technology

摘　　要：2016中国国际无损检测与分析测试仪器展览会于2016年11月28~30日在北京国家会议中心召开。本次展会将邀请国内外政府机构,资深专家学者出席论坛并作专题报告,展会期间将举办高级研讨会暨新产品新技术发布会。吸引众多专业人士,为中外先进技术、设备、经验的交流及行业的发展起到很大的推动作用。

关 键 词：分析测试仪器 无损检测 资深专家学者 新技术发布会 国家会议中心 国内外政府 专题报告 产品质量检验 会将 检测设备 

分 类 号：TH744.12[机械工程—光学工程]