泰克推出Keithley S540功率半导体测试系统  

出　　处：《国外电子测量技术》2016年第10期103-103,共1页Foreign Electronic Measurement Technology

摘　　要：2016年10月27日，泰克科技公司日前推出Keithley S540功率半导体测试系统，这是为高达3kV的功率半导体器件和结构提供的一种全自动48针参数测试系统。全集成S540是为用于最新复合功率半导体材料而优化的，包括金刚砂（SiC）和氮化镓（GaN），可以在一个探头接人中执行所有高压测试、低压测试和电容测试。

关 键 词：功率半导体器件 参数测试系统 泰克 半导体材料 高压测试 电容测试 低压测试 全自动 

分 类 号：TN303[电子电信—物理电子学]