相控阵天线阵中单元波瓣快速测试及系统构成  

作　　者：罗林[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第38研究所,合肥230088

出　　处：《山东工业技术》2017年第2期262-263,共2页Journal of Shandong Industrial Technology

摘　　要：介绍了天线多通道近场测试系统的组成,分析了利用多通道快速测试技术对相控阵天线阵中天线单元进行快速测试的可行性,并对单通道天线测试与多通道天线测试进行了分析比较,论证了该方法的可靠性与高效性。

关 键 词：单元波瓣 快速测试 多通道 

分 类 号：TN821.8[电子电信—信息与通信工程]