宇高HIC产品关键电参数一致性分析  

作　　者：李建和 熊锦康 夏俊生 朱震星 

机构地区：[1]中国兵器工业第214研究所,苏州215163

出　　处：《集成电路通讯》2016年第4期37-41,共5页

摘　　要：宇高产品是宇航级系统高可靠性的保障。关键电参数的一致性又是研究宇高厚膜混合集成电路（HIC）的核心内容。针对一种典型产品，分析了宇高HIC关键电参数一致性指标的影响因素，通过采取元器件选型、评价和筛选、加强工艺控制等措施后，各项一致性指标均达到了标准的要求。

关 键 词：宇高 参数一致性 分流通道压降 通道电阻 有效措施 

分 类 号：TN452[电子电信—微电子学与固体电子学]