BIT虚警影响因素分析和解决方案  

作　　者：刘阳[1] 王文秀[1] 王利明[1] 苏峰[1] 

机构地区：[1]海军航空工程学院青岛校区,山东青岛266041

出　　处：《设备管理与维修》2017年第1期95-97,共3页Plant Maintenance Engineering

摘　　要：现代飞行器广泛采用机内测试(Built in test,简称BIT)技术,但是常规BIT面临诊断算法固定、不易修改、判断故障的途径单一、缺乏推理和学习能力,因此,存在虚警率高,难以有效发挥其应有的作用。论述BIT虚警的基本理论、虚警的危害及现状,并从BIT虚警产生的原因分析入手,提出解决虚警问题的一些方法和措施。

关 键 词：飞行器 BIT 虚警 解决方案 

分 类 号：V216[航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程]