单片机测控系统中抗干扰技术分析  

作　　者：邵艳雪 何永乐[1] 

机构地区：[1]河北大学,河北保定071000

出　　处：《技术与市场》2017年第1期68-68,共1页Technology and Market

摘　　要：在工业领域中,单片机测控系统所处环境十分复杂,很容易受诸多因素的干扰,甚至会致使系统整体陷入瘫痪状态。为此,针对系统干扰因素的研究十分重要,同样,需要从硬件与软件两方面入手,积极采取抗干扰技术,以保证系统实际应用的可操作性。

关 键 词：单片机 测控系统 抗干扰技术 分析 

分 类 号：TP368.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构] TP273[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]