检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]西南交通大学电磁场与微波技术研究所,成都610031
出 处:《信息技术》2017年第1期9-11,共3页Information Technology
基 金:国家重点基础研究发展规划(973计划)项目(2013CB-328904)
摘 要:为研究电磁脉冲作用下p-n-n+型二极管的击穿及损伤情况,文中结合Si基p-n-n+型二极管,采用漂移—扩散理论结合热流方程,建立了二极管的二维电热模型。仿真结果表明,电压信号的上升时间和幅值对二极管是否击穿有直接影响,上升时间越短、初始偏压越高,则二极管越容易击穿。损伤及烧毁阈值随电压幅度的增加而升高,随上升时间的增加而降低。In order to study on the breakdown and damage characteristics of diode under the action of electromagnetic pulse,based on the p-n-n+Si diode this paper builds a the electric heating model by combining the drift diffusion theory and the heat flux equation. The simulation results show that the rise time is and amplitude of the voltage signal have a direct effect on the breakdown of the diode,the shorter the rise time is and the higher the initial bias voltage is,the easier the breakdown of the diode is. The threshold of damage and burnout increased with the increase of the voltage amplitude and the decreased of the rise time.
分 类 号:TP391.9[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.166