X射线粉末衍射的发展与应用——纪念X射线粉末衍射发现一百年(续前)  

Development and Application of X-ray Powder Diffraction——To Commemorate the Discovery of X-ray Powder Diffraction for One Hundred Years(Continued)

作　　者：马礼敦[1] 

机构地区：[1]复旦大学,上海200433

出　　处：《理化检验（物理分册）》2017年第1期33-41,共9页Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)

摘　　要：3.3粉末衍射法测定晶体结构 3.3.1早期情况 晶体结构测定大致上可分为3大步：第一步,主要依据衍射谱上各衍射线的位置对各衍射线的指数进行标定（简称指标化）,并据此推定晶胞参数和依据衍射指数呈现的系统消光来推定其所属的可能空间群;在此基础上进入第二步,主要求出与各衍射线对应的相位,对衍射强度进行傅里叶变换,以求取各原子在晶胞中的位置参数;开始得到的是不完整、精度不高的结构模型,经过多次迭代计算,

关 键 词：晶体结构 衍射线 衍射谱 晶胞参数 衍射指数 系统消光 衍射强度 X射线粉末衍射 结构模型 粉末衍射法 

分 类 号：TG115.22[金属学及工艺—物理冶金]