基于温度补偿的低电阻测试仪校准  

Calibration of Low Resistance Tester Based on Temperature Compensation

作　　者：宗金朝 

机构地区：[1]常州市计量测试技术研究所,江苏常州213000

出　　处：《计量与测试技术》2017年第2期83-83,87,共2页Metrology & Measurement Technique

摘　　要：本文介绍了带温度补偿的低电阻测试仪的校准方法。

关 键 词：温度补偿 低电阻测试仪 校准方法 

分 类 号：TM934.1[电气工程—电力电子与电力传动]