爱德万测试发布全新低成本高速存储器测试解决方案T5851测试系统  

出　　处：《中国集成电路》2016年第9期8-8,共1页China lntegrated Circuit

摘　　要：爱德万测试近日全新发布了专为高效能通用快闪储存（UFS）器件与PCIeBGA固态硬盘（SSD）所设计的低成本测试解决方案T5851系统，可满足智能手机、平板电脑、超便携式产品等低功耗、移动应用市场对于存储器的强劲需求。

关 键 词：测试解决方案 高速存储器 测试系统 低成本 便携式产品 智能手机 平板电脑 移动应用 

分 类 号：TN929.533[电子电信—通信与信息系统]