Problems and Properties of a Current Amplifier When Realized in Ultra Deep Sub-micron Technology  

Problems and Properties of a Current Amplifier When Realized in Ultra Deep Sub-micron Technology

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作  者:Simeon Kostadinov Ivan Uzunov Dobromir Gaydazhiev 

机构地区:[1]Smartcom Bulgaria AD, Department of Microelectronics, 36 Dragan Tzankov blvd., Sofia 1040, Bulgaria [2]SmartLab AD, BIC IZOT, Build. 1, 133 Tzarigr. Shosse blvd., Sofia 1784, Bulgaria [3]Smartcom Bulgaria AD, Department of Microelectronics, 36 Dragan Tzankov blvd., Sofia1040, Bulgaria

出  处:《通讯和计算机(中英文版)》2017年第1期39-45,共7页Journal of Communication and Computer

关 键 词:深亚微米技术 电流放大器 特性 短沟道效应 频率带宽 FET 长度 信道 

分 类 号:TN402[电子电信—微电子学与固体电子学] TN722.73

 

参考文献:

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