应用X荧光仪快速测定铁矿石品位  

作　　者：林宏健 夏源[1] 陈诚[1] 候铁钢 

机构地区：[1]成都理工大学地学核技术四川省重点实验室,四川成都610051

出　　处：《科技创新与应用》2017年第6期34-35,共2页Technology Innovation and Application

摘　　要：文章确定了便携式X荧光仪测量铁矿石的工作状态,并分析了相关的基体效应,在此基础上建立矫正曲线。最后测量值与化学分析参考值之间的相对误差在正负3.6%内,便携式X荧光分析仪能快速精准测量铁矿石品位。

关 键 词：铁矿石 便携式X荧光仪 基体效应校正 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学]