离子束截面抛光-电子探针仪分析在SiC_p/Al复合材料相结构研究中的应用  

Application of CP-EPMA in Study of Phase Constitutes of SiC_p/Al Composite

作　　者：胡莹[1,2] 张澜庭[1] 

机构地区：[1]上海交通大学材料科学与工程学院,上海200240 [2]宝山钢铁集团中央研究院,上海201900

出　　处：《理化检验（物理分册）》2017年第2期101-104,共4页Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)

基　　金：国家重点基础研究发展计划资助项目(2012CB619600)

摘　　要：SiC颗粒增强铝基复合材料(SiC_p/Al),由于其结构复杂且各组成单元之间的物理、化学性质存在明显的差异,因而在试样制备、微观结构表征等工作中存在一定困难。利用离子束截面抛光(CP)制样技术结合电子探针X射线分析仪(EPMA)分析,提出了一种适宜解析这种复合材料微观相结构的方法。试验结果证实:该方法效果明显,结果直观、可靠;并可推广到类似材料的微观结构精细解析研究中。There are difficulties in sample preparation and microstructure characterization of SiC particles reinforced Al-based （SiCp/Al） composite due to the complexity of phase constitutes and large difference in physical and chemical properties of the constituted phases. Ion beam cross-sectional polishing （CP） combined with electron probe microanalysis （EPMA） was successfully applied to characterize the detailed microstructure of SiCp/A1 composite. The experimental results show that this method is effective, and the results are visual and reliable. The method was thus proven to be applicable to study the phase constitutes of the materials with a similar character.

关 键 词：离子束截面抛光 电子探针仪分析 SICP/AL复合材料 相结构解析 

分 类 号：TB3[一般工业技术—材料科学与工程] TG115.215.7[金属学及工艺—物理冶金]