纳伏电压标准装置测量不确定度分析与评定  

Analysis and Evaluation of the Uncertainty of the Measurement in the Nanovoltage Standard Device

作　　者：彭先洪[1] 刘磊[1] 梁国杰[1] 张贵荣[1] Peng Xianhong Liu Lei Liang Guojie Zhang Guirong

机构地区：[1]92601部队,广东湛江524009

出　　处：《计量与测试技术》2017年第3期13-15,18,共4页Metrology & Measurement Technique

摘　　要：通过实验与经验分析,考虑零点漂移、环境温度、量程非线性、数据处理、信号衰减、信号传输、频率响应、噪声与干扰等因素的影响,对纳伏电压标准装置进行了测量不确定度分析与评定。给出了实验数据和评定结果,提出了提高纳伏级微弱信号测量准确度的建议。

关 键 词：纳伏电压 标准装置 不确定度 分析评定 

分 类 号：TB971[一般工业技术—计量学]