纳米硅粉颗粒粒径的测试方法研究  

Study of Measuring Method of Particle Size of Nano Ganister Sand

作　　者：秦海青[1,2,3] 雷晓旭[1,2,3] 刘文平[1,2,3] 林峰[1,2,3] 张振军[1,2,3] 张健伟[1,2,3] 

机构地区：[1]中国有色桂林矿产地质研究院有限公司,广西桂林541004 [2]国家特种矿物材料工程技术研究中心,广西桂林541004 [3]广西超硬材料重点实验室,广西桂林541004

出　　处：《超硬材料工程》2017年第1期23-26,共4页Superhard Material Engineering

基　　金：桂林科技开发(科技攻关)项目(合同编号:2016010706);桂林科技开发(科技攻关)项目(合同编号:2016010704)

摘　　要：文章以高纯度纳米硅粉为研究对象,研究了三种常用纳米颗粒粒径检测方法(激光粒度仪法、比表面积法、X射线衍射法)的检测结果。实验结果表明:与激光粒度仪法相比,BET法与X射线衍射法的测量结果都偏小。Test result of three commonly used measureing methods of nano particle size {laser particle analyzer, BET, X-ray diffraction） has been studied in this article with high-purity nano ganister sand as the research object. Result shows that compared to the method of laser particle analyzer, the measurement results by BET and X-ray diffraction methods are both smaller.

关 键 词：纳米硅粉 粒径 测试方法 

分 类 号：TQ127.2[化学工程—无机化工] TB383[一般工业技术—材料科学与工程]