基于黑匣子的门电路逻辑功能测试实验设计  

Experimental design of logic function test of gate circuit based on black box

作　　者：梁丽勤[1] 徐天运 张宝健[2] 才溪[3] 

机构地区：[1]东北大学秦皇岛分校实验教育中心,河北秦皇岛066004 [2]东北大学秦皇岛分校控制工程学院,河北秦皇岛066004 [3]东北大学秦皇岛分校计算机与通信工程学院,河北秦皇岛066004

出　　处：《实验技术与管理》2017年第3期173-175,共3页Experimental Technology and Management

基　　金：国家自然科学基金项目"基于视觉的智能健康监护关键技术研究"(61601108)资助

摘　　要：设计了基于黑匣子的门电路逻辑功能测试实验,同时设计了黑匣子实验模块及其保护电路等装置。学生通过设计实验电路、测量实验数据,利用所学逻辑知识推理得出黑匣子内部所用74LS系列的二输入门电路芯片类型。学生实验的兴趣和实验效果得到提高,在数字电子技术基础实验教学中具有重要的意义。This paper presents a black box-based logic function test of the gate circuit. At the same time, the experimental module of the black box, its protection circuit and other devices are designed. By means of designing the test circuit and measuring experimental data, students could infer the 74LS series of two-input gate circuit chip type of the black box used from the logic knowledge . The interest of students in the experiment and the effect of the experiment are improved, which is of great significance in the basic experimental teaching of digital electronic technology.

关 键 词：综合设计性实验 黑匣子实验模块 保护电路 

分 类 号：TN79[电子电信—电路与系统]