基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计  

作　　者：殷凤媛 李翔[1] 

机构地区：[1]安徽建筑大学城市建设学院,安徽省合肥市230000

出　　处：《电子技术与软件工程》2017年第7期88-88,共1页ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING

摘　　要：设计采用单片机AT89S52为核心元件来实现,以AT89S52为核心的数字电路自动测试仪,可以对常见的74系列数字集成电路进行逻辑功能测试、自动确定其型号和好坏,且用LCD显示其逻辑符号。具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和可靠性高等优点。

关 键 词：AT89S52 自动测试仪 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]