多ATE时钟的时钟电路设计与时钟分配方法研究  

作　　者：刘欣 

机构地区：[1]福建福州瑞芯微电子,福建福州350003

出　　处：《福建电脑》2017年第3期144-146,共3页Journal of Fujian Computer

摘　　要：提出一种适用于多ATE(Automated Test Equipment)扫描测试时钟的时钟结构,并在此结构下,以各ATE时钟下两两功能时钟间的时序路径数目作为特征指标,选取最优的功能时钟和扫描测试时钟的分配组合,以减少修复时序路径的代价和降低无法修复的时序终点所带来的扫描测试覆盖率损失。通过实验表明,以时序路径数目作为特征指标来选择的时钟分配组合,可以明显降低时序路径修复代价,并能提高扫描测试的覆盖率。

关 键 词：SOC 扫描测试 时钟电路 

分 类 号：TP309[自动化与计算机技术—计算机系统结构]