存储器测试图形算法概述  

Summary of Test Pattern Algorithm for Memory

作　　者：罗晶[1] 杨士宁[1] 石雪梅[1] 

机构地区：[1]航天科工防御技术研究试验中心,北京100854

出　　处：《计算机与数字工程》2017年第4期740-744,共5页Computer & Digital Engineering

摘　　要：存储器的高集成度化、高速化,为存储器测试带来了极大挑战。论文介绍了存储器测试图形的原理和发展,基于传统的存储器测试图形,综合描述了目前国内外几种较为新颖的且可用于实际工业生产的存储器测试图形改进算法。It brings big challenge to the testing of semiconductor memory with the development of its high integration and speed.The principle and development of test pattern for memory are introduced.Ameliorated test pattern for memory used in industry manufacture based on traditional test pattern for memory is described synthetically at present.

关 键 词：存储器测试 测试图形 改进的齐步算法 

分 类 号：TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]