用于DP-QPSK系统的高速ADC的验证方法  

Evaluating high-speed ADC in DP-QPSK system

作　　者：陈哲 

机构地区：[1]厦门优迅高速芯片有限公司,福建厦门361012

出　　处：《光通信技术》2017年第5期31-33,共3页Optical Communication Technology

基　　金：国家863计划(课题编号:2013AA014102)资助

摘　　要：介绍了一种在高速相干光通信系统中验证模数转换芯片(ADC)的方法。该方法将待测ADC的数据导入Optisystem软件中对112Gb/s双偏振正交相移键控(DP-QPSK)的系统进行仿真。验证了该方法的可行性,并对33GS/s 6比特的ADC的光信噪比(OSNR)容限测试结果进行了讨论。This paper introduces an approach for evaluating the performance of the analog-to-digital convertor （ADC） in high speed coherent optical communication system. This approach imports the data generated from ADC under test to Optisystem to simulate in 112Gb/s DP-QPSK system. The feasibility of the approach has been verified and the testing results of optical-signal-noise-ratio （OSNR） tolerance with a 33GS/s 6bit ADC have been discussed.

关 键 词：双偏振正交相移键控 模数转换芯片 光信噪比 

分 类 号：TN915.62[电子电信—通信与信息系统]