基于ADF4106的低相噪本振设计  

Design of low phase noise local oscillator based on ADF4106

作　　者：曹阳[1,2] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第41研究所研发1部,安徽蚌埠233006 [2]电子信息测试技术安徽省重点实验室,安徽蚌埠233006

出　　处：《电子产品世界》2017年第6期30-32,61,共4页Electronic Engineering & Product World

基　　金：国家科技重大专项面向R12 LTE-Advanced终端综合测试仪(编号:2016ZX03002010)

摘　　要：为了实现低相噪的本振信号输出,本文设计出一种基于锁相环芯片ADF4106的低相噪本振源。通过实际调试,测试结果满足设计要求,并作为第二点频本振应用于一款通信测试仪器的中。

关 键 词：ADF4106 本振 压控振荡器 环路滤波器 相位噪声 

分 类 号：TN713[电子电信—电路与系统] TN752