温度加速寿命试验实例研究  

作　　者：洪潇[1] 李用兵[2] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第十四研究所,江苏南京210039 [2]中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄050051

出　　处：《质量与可靠性》2017年第3期27-30,共4页Quality and Reliability

摘　　要：结合关键元器件温度加速寿命试验实例,验证了关键元器件在有效工作期的失效率,估算出了元器件的可靠寿命;通过对试验中方案的确定、试验的实施和数据的分析,以及对该试验进行总结,为后续开展同类试验提供了参考。

关 键 词：关键元器件 加速寿命试验 数据分析 

分 类 号：TB114.3[理学—概率论与数理统计]