一米测长机改造研究  

One Meter Length Measuring Machine Modification Research

作　　者：全达 Quan Da

机构地区：[1]北京新立机械有限责任公司检测校准实验室,北京100039

出　　处：《计量与测试技术》2017年第6期62-64,共3页Metrology & Measurement Technique

摘　　要：采用上海光学仪器厂JDS-1型接触式干涉仪关键部件对卡尔·蔡司·耶拿[Carl Zeiss Jena]一米测长机进行改造将其原有测量精度提高一个数量级,改造后可用于3等量块100mm以上到1000mm的高精度比较测量。本方法优点成本低,易于实现,读数直观可靠稳定,干涉管可根据需要定相应分辨率,光路全程均为光学器件,方法可逆,经济实用。

关 键 词：测长机改造 光学计管 接触式干涉仪 干涉管 

分 类 号：TH741.1[机械工程—光学工程]