AM-OLED驱动控制芯片的测试电路设计  

作　　者：高艳丽 郭锐 

机构地区：中国电子科技集团公司第三十八研究所,安徽合肥230081

出　　处：《电脑知识与技术》2017年第6期232-233,共2页Computer Knowledge and Technology

摘　　要：文章从分析AM-OLED驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该驱动芯片的测试电路设计方案。该方案采用对芯片内的多个功能模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性。考虑到内置SRAM的特殊性,采用FPGA可编程测试,提高了测试的灵活性,大大提高了Source Driver测试的可控性,减少了测试管脚数目,节约了测试成本。

关 键 词：AM-OLED 驱动芯片 FPGA 

分 类 号：TP303[自动化与计算机技术—计算机系统结构;自动化与计算机技术—计算机科学与技术]