X射线粉末衍射的发展与应用——纪念X射线粉末衍射发现一百年(续前)  

Development and Application of X-ray Powder Diffraction——To Commemorate the Discovery of X-ray Powder Diffraction for One Hundred Years(Continued)

作　　者：马礼敦[1] 

机构地区：[1]复旦大学,上海200433

出　　处：《理化检验（物理分册）》2017年第7期496-499,共4页Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)

摘　　要：5粉末衍射与电子晶体学的结合 前文已详述了使用粉末衍射进行物相鉴定和测定晶体结构的方法。但若样品为多相体系,要进行物相鉴定是有一定困难的,如含有未定相便无法进行物相鉴定;若待测结构的晶胞过大（如〉1nm）、晶胞内原子过多、颗粒过细或样品不纯等,要使用X射线粉末衍射（XRPD）来解晶体结构也是困难的。

关 键 词：物相鉴定 晶体结构 电子晶体学 晶胞 X射线粉末衍射 射线束 倒易点阵 reconstructed 二维投影 多相体系 

分 类 号：TG115.22[金属学及工艺—物理冶金]