检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:吴传玺
机构地区:[1]国网辽宁本溪供电公司
出 处:《电子世界》2017年第16期125-126,共2页Electronics World
摘 要:本文介绍了红外测温的原理及过热缺陷的主要产生原因,以常见电流过热型缺陷和电压过热型缺陷为例,通过对比正常图谱和故障图谱,对这两类缺陷的机理及判断依据作了介绍。本文提供的案例对于指导现场红外诊断及状态检修提供参考依据。
分 类 号:TN215[电子电信—物理电子学]
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