片上存储器单粒子翻转效应诊断及修复  

Single Event Upset Diagnosis and Recovery in On-Chip-Memory

作　　者：杨卫涛[1] 贺朝会[1] 杜雪成 申帅帅 YANG Wei - tao HE Chao - hui DU Xue - cheng SHEN Shuai - shuai(Xi＇ an Jiaotong University, Xi＇ an 710049, China)

机构地区：[1]西安交通大学,西安710049

出　　处：《核电子学与探测技术》2017年第2期138-141,共4页Nuclear Electronics & Detection Technology

基　　金：国家自然科学基金资助项目(11575138)

摘　　要：研究了Zynq-7000片上存储器(OCM)的单粒子翻转效应(SEU),进行了SEU的诊断设计,可以及时诊断出OCM中发生SEU的具体位置以及具体数据位,能够实现对发生于OCM中的单位翻转和多位翻转诊断;进行了SEU修复的设计,可以准确地修复OCM中发生的SEU。能够利用较少的空间资源占用和运行时间实现OCM中SEU百分之百的诊断和修复。Single Event Upset（SEU） in Zynq- 7000 On- Chip- Memory（OCM） is studied, A OCM SEU di- agnosis and recovery system is designed. The SEU diagnosis system can diagnose Single Bit Upset （SBU） and Multiple Bit Upset （MBU） in OCM correctly, it can detect the specific SEU address and hits. The SEU recov- ery system can repair the SEU immediately and correctly. The system reaches 100% diagnosis and repair of SEU in OCM with less space resource usage and running time.

关 键 词：ZYNQ-7000 片上存储器 单粒子翻转效应 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]