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出 处:《仪器仪表学报》2002年第4期411-413,共3页Chinese Journal of Scientific Instrument
摘 要:对光热技术测量材料缺陷的原理及实验方法进行了研究。通过对试样光热信号的振幅和相位的测量 ,确定出材料缺陷的位置 ,并由理论公式通过计算机拟合出缺陷大小的尺度。设计了硬件与软件 ,实现了测量自动化 。A principle and experimental method of detecting material defects by photothermal technique is researched in this paper. According to amplitude and phase of photothermal signal, the defects positions of material are determined. The size of defect is fitted by theoretical format using computer. The circuit and soft are designed, and automatic measurement is realized. The defects of complex material C/Al are detected by this method.
分 类 号:TB33[一般工业技术—材料科学与工程] TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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