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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:余旻[1] 杨宏顺[1] 柴一晟[1] 李鹏程[1] 李志权[1] 陈兆甲[1] 曹烈兆[1]
机构地区:[1]中国科学技术大学结构开放实验室,物理系合肥230026
出 处:《低温物理学报》2002年第3期188-192,共5页Low Temperature Physical Letters
基 金:国家重点基础研究经费 (批准号 :19990 6 4 6 )资助项目~~
摘 要:测量了欠掺杂区域Sm2 -xCexCuO4 (0 .0 9≤x≤ 0 .15 )多晶样品的热电势S和电阻率 ρ的温度依赖关系 .电阻率 ρ在低于 2 0 0K处斜率发生改变 ,表明低温下发生载流子弱局域化 .热电势S高温下满足线性温度依赖关系 ,随着温度降低 ,在 2 0 0~ 2 5 0K发生斜率改变 ,可以用赝能隙的开放解释 .所有的样品在 5 0K观察到一个曳引峰 ,表明载流子符号发生改变 ,由电子型转变为空穴型 .The temperature dependence of thermopower S and resistivity ρ for Sm 2- x Ce x CuO 4 polycrystalline samples in un doped area (0.09≤ x ≤0.15) has been measured. A slope change in resisitivity temperature curve was found in all samples below 200K, which indicated the localization of carriers. The thermopower S of all samples shows linear temperature dependence, and changes its slope in 200~250K, which can be explained with the open of pseudogap. A positive excitation drag contribution for thermopower S near 50K is observed in all samples, indicating the changing of the sign of carriers.
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