基于FPGA的Time-To-Count辐射测量仪的系统研究  

作　　者：王洋 侯广军 高健 

机构地区：[1]营口世纪电子仪器有限公司

出　　处：《电子世界》2017年第20期178-178,180,共2页Electronics World

摘　　要：本文以FPGA EP1C12F256i7芯片为核心,根据Time-To--Count辐射测量方法学习探讨。使用其核心器件,对于Time-To-Count技术使用方法,利用EP1C12F256i7芯片的计数器设置控制硬件逻辑引脚功能,解决了Gm管较长死时间问题,导致测量范围误差较大,本文论证FPGA EP1C12F256i7处理器芯片的time-to-count可以提高GM计数管的测量范围与测量精度。

关 键 词：FPGA Time-To-Count 盖革一弥勒计数管 辐射测量 

分 类 号：TP36[自动化与计算机技术—计算机系统结构]