检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:霍彬彬 陈成[2,3] 吴金杰[2] 左国平[1] 张帅[2,4] 李婷[2,3]
机构地区:[1]南华大学,湖南衡阳421001 [2]中国计量科学研究院,北京100029 [3]成都理工大学,四川成都610059 [4]中国石油大学,北京102200
出 处:《计量学报》2017年第6期786-789,共4页Acta Metrologica Sinica
摘 要:针对钐元素的K荧光能谱进行研究分析,利用MCNP程序模拟荧光装置,计算得到荧光产额及荧光纯度随辐射体氧化钐(Sm_2O_3)厚度和次级过滤材料氧化铈(CeO_2)厚度的变化关系:Sm_2O_3厚度为0.4 mm时,K荧光产额达到饱和;CeO_2为0.55 mm时,K_α荧光纯度达到最大值96.6%;实验显示,X光机管电压越大,荧光产额越大;管电压为80 kV时,荧光纯度达到最高82.3%。The relationship between fluorescence quality and thickness of radiator Sm203 or secondary filter CeO2 by simulating fluorescence instrument with MCNP program was described. When the thickness of Sm2 03 reached 0. 4 mm, K fluorescence yield is saturated. When the thickness of CeO2 was 0. 55 mm, Kα fluorescence purity optimum value is 96. 6%. The results show that the higher X-ray tube voltage is, the bigger fluorescence yield is. Fluorescence purity reached optimum 82. 26% when X-ray tube voltage was 80 kV.
分 类 号:TB98[一般工业技术—计量学]
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