孔中心距数显卡尺示值误差测量结果不确定度分析与评定  

作　　者：丁岚 

机构地区：[1]辽宁省计量科学研究院,辽宁沈阳110004

出　　处：《轻工标准与质量》2017年第5期45-46,共2页Standard & Quality of Light Industry

摘　　要：介绍了孔中心距数显卡尺的产生背景及用途,并采用万能工具显微镜对孔中心距数显卡尺的示值误差测量结果进行不确定度分析与评定,其中,充分考虑了各项不确定度分量,给出了具体的计算公式和方法、完整的评定过程和与不确定度相关的数据。

关 键 词：孔中心距数显卡尺 测量结果 不确定度评定 

分 类 号：TG80[金属学及工艺—公差测量技术]