检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]哈尔滨工业大学 [2]哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院
出 处:《红外与激光工程》2017年第11期I0003-I0003,共1页Infrared and Laser Engineering
摘 要:超分辨成像技术可应用于以成像、形貌测量、位移测量、形变测量为基础的很多重要研究,目前已经在物理、化学、材料、生命科学等领域有广泛应用。该技术可以对未知世界实现无损地获取清晰图像。而超成像技术的发展又受限于电磁波的衍射特性,因此传统显微成像仪器直接获取图像的空间分辨率最高可达到半波长量级。早期人们通过使用短波和高数值孔径构建成像系统来获取高分辨图像,有限的技术途径难以满足不断增加的应用需求。近年来突破衍射极限的超分辨成像技术已成为成像领域一个富有挑战性的前沿课题。
关 键 词:成像技术 超分辨 高分辨图像 空间分辨率 高数值孔径 形貌测量 位移测量 形变测量
分 类 号:TP391.41[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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