一种基于MEGA128的IR-CUT检测系统  

作　　者：胡继明[1] 夏路生[1] 

机构地区：[1]江西工业工程职业技术学院

出　　处：《电子制作》2017年第23期64-65,共2页Practical Electronics

基　　金：江西省2015年青年科技基金科技项目;编号:151409

摘　　要：双滤光片切换器(IR-CUT)是照相机、摄像机中非常容易出故障的配件,因此,设计一款高性能的IR-CUT寿命检测系统先得非常必要。本文采用ATMEL公司的8位高性能控制芯片,作为IR-CUT检测系统的核心,实现多次连续多通道同时检测,且测试间隔连续可调,可以选择多种电压模式,经过实际测试验证,该检测系统运行安全、稳定。

关 键 词：IR-CUT 单片机 测试系统 模式选择 

分 类 号：TB85[一般工业技术—摄影技术]