单面碳膜板的测试稳定性研究  

作　　者：滕亚军 黄丽[1] 

机构地区：[1]运城学院物理与电子工程系,山西运城044000

出　　处：《运城学院学报》2017年第6期29-31,共3页Journal of Yuncheng University

基　　金：运城学院教学改革项目(JG-201610)

摘　　要：为了提高单面碳膜板的测试稳定性,制作出更合格的产品,对比了测试电压、导通阻抗与绝缘阻抗对单面碳膜板性能的影响。结果表明:测试电压为50V,导通阻抗为2KΩ,绝缘阻抗为10MΩ时,测试稳定性最好。

关 键 词：测试电压 导通阻抗 绝缘阻抗 测试稳定性 

分 类 号：TP273[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]