一种新型红外焦平面阵列非均匀校正算法  

New Algorithm of Infrared Focal Plane Array Nonuniformity Correction

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作  者:刘佳钰 Liu Jiayu(No. 12 Institute, China Airborne Missile Academy, Luoyang 471009, China)

机构地区:[1]中国空空导弹研究院第十二研究所,河南洛阳471009

出  处:《兵工自动化》2018年第1期28-30,共3页Ordnance Industry Automation

摘  要:针对现有红外热像产品多采用一点+两点的校正方式,存在增加结构复杂度和整机功耗的问题,开发研究一种新型的红外焦平面阵列非均匀性的校正方法。介绍非均匀性的3种定义,给出非均匀校正的常用方法,在以ULIS0304为试验件的基础上详细论述红外焦平面阵列非均匀性的校正方法,并比较各温度校正前后直方图。结果表明:校正后图像矩阵的非均匀性基本为0,算法有效。For most of the existing infrared imaging adopting the correction method of one point+ two points, which increases structure complexity and overall power dissipation. Develop and design a new nonuniformity correction algorithm of infrared focal plane array. The paper introduces the three definition of nonuniformity and the common correction methods for nonuniformity correction. Based on test piece ULIS0304, describe non-uniformity correction of infrared focal plane array, then compare histograms before and after temperature correction. The results show that the non- uniformity of corrected image matrix is 0, and the algorithm is effective.

关 键 词:非均匀校正 红外焦平面阵列 非制冷红外 

分 类 号:TP317.3[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]

 

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