慢电子速度成像技术  

SLOW ELECTRON VELOCITY-IMAGING SPECTROSCOPY

作　　者：赵静 罗志弘 宁传刚[2] 

机构地区：[1]北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院,北京100191 [2]清华大学物理系,北京100084

出　　处：《物理与工程》2018年第1期3-10,共8页Physics and Engineering

基　　金：国家自然科学基金委对该项目的资助(批准号91736102)

摘　　要：基于速度成像的光电子能谱实验技术是研究原子分子的重要工具。最近发展起来的慢电子速度成像技术大大提高了光电子能谱的分辨率。本文对这一实验技术的发展和特点作了简要介绍。利用慢电子速度成像技术,我们成功地将多个过渡族元素电子亲和势的测量精度提高了约两个量级。这项技术和冷离子阱技术相结合,为研究原子分子团簇提供了一种新的高分辨方法。Photoelectron spectroscopy based on the velocity-map imaging method is a powerful tool for exploring the structures of atoms and molecules.The newly developed slow electron velocity-imaging（SEVI）technology significantly improves the energy resolution of photoelectron spectroscopy.We briefly review the development of SEVI and its features.With SEVI,we successfully improved the accuracy of the electron affinities of a few transitional elements by two orders of magnitude.The combination of SEVI and the cold-ion-trap provide a new high-resolution spectroscopic method for investigating the structures of atoms,molecules,and clusters.

关 键 词：慢电子速度成像 光电子能谱 电子亲和势 

分 类 号：O56[理学—原子与分子物理]