基于ATE的FLASH型FPGA测试方法研究  

作　　者：张金凤 唐金慧 马成英 

机构地区：[1]中国航天科工集团第三研究院第三〇三研究所

出　　处：《电子世界》2018年第10期46-47,共2页Electronics World

摘　　要：FLASH型FPGA以其高可靠性、高安全性、上电即可运行的特点,在军工和航天领域中得到了广泛的应用,但其复杂的结构对测试的可靠性和准确性提出了更高的要求,因此对其测试技术和方法的研究就显得尤为重要。本文分析了FLASH型FPGA芯片的结构及特点,并以ACTEL公司ProASIC3系列FPGA为研究对象,详尽研究了输入输出模块(IOB)、可编程逻辑单元(Tiles)、内嵌RAM模块(BRAM)、时钟调整电路模块(CCC)、1kbit Flash ROM等五个主要模块的测试方法。

关 键 词：FPGA测试 ATE ProASIC3 

分 类 号：TP334.7[自动化与计算机技术—计算机系统结构]