X-射线荧光光谱法分析改质剂中TAl成分  

Analysis of the Composition of TAl in the Modifier by X-ray Fluorescence Spectrometry

作　　者：闫丽 王贵玉 焦丽[1] 杨凡[1] 杜士毅[1] 孙娟 雷娜 

机构地区：[1]北京首钢股份有限公司,迁安064400

出　　处：《中国检验检测》2018年第3期27-31,共5页China Inspection Body & Laboratory

摘　　要：本文介绍了一种X-射线荧光光谱法分析改质剂中TAl成分的方法,该方法具有操作简单、分析速度快、节省人力等优点。通过对化学法和X-射线荧光光谱法分析数据进行比较,最终确定了化学法变更到X-射线荧光光谱法分析改质剂中TAl的含量,该方法满足冶炼生产对改质剂准确性和及时性的要求。

关 键 词：改质剂 TAl X-射线荧光光谱仪 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学]