光控晶闸管开通电压自动测试技术研究  

作　　者：于庆 李更生 乔宇 

机构地区：[1]西安派瑞功率半导体变流技术股份有限公司

出　　处：《内江科技》2017年第11期34-34,70,共2页

摘　　要：光控晶闸管,半导体光控器件已经在非常多的高压串联领域进行使用,其诸多的优良特性对比传统的电控晶闸管具有非常明显的优势。但目前国家标准中并没有涉及到相关开通电压参数的测试。本文针对该参数的自动测试方法进行了研究。

关 键 词：光控晶闸管 自动测试技术 电压参数 特性对比 国家标准 测试方法 半导体 串联 

分 类 号：TN34[电子电信—物理电子学]