检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:杜渝 Du Yu(Kell laboratory,China Electronic Technology Group Corporation Seventh Research Institute,Guangzhou Guangdong,510000)
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第七研究所凯尔实验室,广东广州510000
出 处:《电子测试》2018年第13期131-133,共3页Electronic Test
摘 要:本文介绍了全电波暗室的性能测试技术,并结合其实际测试中出现的问题,提出了相应的解决方案,为有关需要提供参考。In this paper, the performance testing technology of the full electric wave chamber is introduced, and the corresponding solutions are put forward in combination with the problems in the actual test, which can provide reference for the relevant needs.
分 类 号:TM937[电气工程—电力电子与电力传动]
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