基于K60的数字逻辑芯片测试仪设计  

作　　者：任玲芝[1] 张光照 李哲文 

机构地区：[1]巢湖学院机械与电子工程学院,安徽巢湖238000

出　　处：《赤峰学院学报（自然科学版）》2018年第8期108-110,共3页Journal of Chifeng University(Natural Science Edition)

基　　金：安徽省高校自然科学研究重点项目(KJ2016A509);2017年度国家级大学生创新创业训练计划项目(201710380022)

摘　　要：针对数字逻辑芯片损坏时却无法观察的情况,采用K60控制器,配合液晶显示屏、矩阵按键和芯片检测电路等,设计了一款界面友好、操作简单,具有检测数字逻辑芯片功能的芯片测试仪.不仅能够检测整个芯片是否正常工作,若芯片有多路输入输出,还能够检测具体某一路输入输出的运行状况,这样即使某路输入输出不能正常使用,还可以使用其他路,提高了芯片的利用率.

关 键 词：K60 数字逻辑芯片 液晶显示屏 矩阵按键 

分 类 号：TN606[电子电信—电路与系统] TN79